Awarded

Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes

Name: Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Creator: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Published: 2026-03-10
License: https://ted.europa.eu/en/simap/legal-notice

Buyer: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Winners: Attocube Systems AG
Contract value: €219,340
Published: 10 Mar 2026
Awarded: 10 Mar 2026
Contract start: 10 Mar 2026
Sector: Laboratory and optical equipment
Region: Thüringen (DEG03)
Source: Original notice on TED (168375-2026)

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