Zuschlag

Rasterelektronenmikroskop mit Ionenstrahl (FIB-SEM)

Auftragswert
kein Wert veröffentlicht
Angebote
1
Veröffentlicht
20. Aug. 2026
Zuschlag
30. Juli 2026
Vertragsbeginn
30. Juli 2026

Weitere Zuschläge dieses Auftraggebers